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Defects in SiO2 and Related Dielectrics Science and Technology:洋書エクスプレス - a11b3

2020-10-04

Defects in SiO2 and Related Dielectrics Science and Technology著 者 : Gianfranco Pacchioni, Linards Skuja, David Griscom
出版年 : 31-Dec-2000
ISBN-10 : 0792366867
ISBN-13 : 9780792366867
出版社 : Springer

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価格
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